基于板载FPGA5G基站芯片的低成本测试方案

Advantest Tech 爱德万测试 ADVANTEST 1周前

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随着人们对高速无线数据传输需求的不断增长,也由于现有网络的带宽和速度无法满足更为前沿的需求,5G通信标准应运而生。

最新发布的5G通信标准中的SUB-6G频段以更高的载波频点,更宽的带宽以及相对成熟的技术,发展迅猛。5G商用元年的到来,5G基站作为5G通信的基础设施,率先覆盖了世界的各个角落。


基站芯片作为基站中远程射频单元的核心,用以连接核心网络与终端网络。其开发和测试也在保证高可靠性的基础上,尽可能得实现高效率与低成本。

关于5G基站芯片

相较于5G的终端芯片,基站芯片拥有更复杂的功能及更强的性能,主要包括以下几点:

数字信号传输接口的传输速率更快,芯片的内部包含了高速串列解串器作为数字信号传输接口,用来接收数字IQ信号,通常可以达到16Gbps以上,最高可达到112Gbps。

数字信号传输接口的数量更多,通常有4对以上的发送和接收端,最高可达到16对以上。

集成了针对SUB-6G频段的射频单元及数字和模拟基带,在芯片内部就可以对数字IQ进行转换,并加载到对应频点,输出射频信号。

射频通道发送和接收的信号的带段更宽,支持的频点更多。

集成了更复杂的数字逻辑及存储单元。

5G基站芯片的测试需求

针对如下几点严苛的测试需求,爱德万测试(ADVANTEST)提出了一套基于V93000 自动化测试平台的完整的硬件与软件测试方案,以提升测试效率及降低测试成本。

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对应于芯片极高的数据传输速率测试方案需要有发送及接收高速信号的能力,并能对芯片发送的信号质量及接收能力进行表征。同时,芯片需要一个高精度的时钟源进行参考。

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对应于芯片的射频信号的极宽的带宽及众多频点,测试方案需要完全覆盖芯片输出的频域,并通过提高并行度,以实现较短的测试时间。

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对应于芯片内部复杂的数字逻辑及数量众多的功能模块,测试方案需要能够高效得对芯片进行配置。

基站芯片的测试解决方案

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针对于芯片极高的数据传输速率测试需求

首先,高精度的时钟源不可或缺。然而,使用高精度的时钟板卡(LPN)将在一定程度上增加测试成本。因此,ADVANTEST提供了一种板载的模块,JAM(Jitter Attenuator Module)。通过降低PS1600数字通道的抖动,使通用的数字通道成为高精度的时钟源,从而减少用于产生高精度时钟所需要的测试成本。

JAM(Jitter Attenuator Module)


针对芯片数据传输速率为16Gbps以下的数字信号ADVANTEST提供了一款高速数字板卡,PSSL,可对与芯片数据传输性能进行表征。PSSL板卡内的伪随机序列分析模块被用来测试芯片输出端的眼图。而PSSL板卡内部的抖动注入模块也被用来测试芯片接收端的抖动容忍度 。

Test Approach Demonstration via PSSL


针对芯片高达32Gbps数据传输速率数字信号ADVANTEST和客户紧密合作,提出了通过板载可编程门阵列(FPGA)作为高速串列解串器,将64bit并行数据转换成为最高32Gbps的串行数据,差分输出,反之亦然。实现了高达32Gbps数据传输速率的全速测试

Test Approach Demonstration via On-Board FPGA and JAM


该方案中,所以的高速节点的连接都是通过同轴信号线缆。这在增加了测试灵活性的同时,降低了测试板的设计难度。


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针对于芯片射频信号的多频点、大带宽测试需求

ADVANTEST发布的新一代射频板卡WSRF可以很好得满足5G通信标准中所包含的SUB-6G频段,200MHz以上的带宽以及更复杂的调制解调方式。多端口数也可以很好得满足高并行度测试的需求


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针对于需要对芯片进行高效配置的测试需求

ADVANTEST全新发布的SmarTest8操作系统中,集成了针对通用协议的Bottom-up式的解决方案,同时也支持客制化。这使得测试程序的编写更加便捷。在降低了工程师的工作量的同时,也降低了后期维护的难度。

SmarTEST8 Protocol Aware Function


基于V93000平台的板载FPGA低成本测试方案,不仅实现了高精度,高可靠性与高效率的测试验证。其高灵活性的特性,使其可以被推广到所有高集成度的高速-射频芯片的表征与量产测试中,助力5G技术的高速发展和广泛应用。


 

作者:MJ Tang

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