单粒子效应及充放电效应诱发航天器故障的甄别与机理探讨

作者：韩建伟，陈睿，李宏伟，朱翔

摘要: 单粒子效应（SEE）是诱发航天器故障最重要的空间环境因素之一，其与充放电效应（SESD）诱发故障的宏观表象相像，但具体影响细节及防护设计又不尽相同，导致工程上将大量可能由SESD诱发的航天器故障简单归零为SEE并进行改进设计，但复飞后的航天器在轨故障依然不断。截至目前，鲜有综合比对研究以揭示这2种效应诱发星用器件错误和导致电子设备故障的异同。文章首先通过大量在轨实例表明二者触发的航天器故障有很强关联，之后对引起2种效应混淆的可能原因进行剖析，并介绍中国科学院国家空间科学中心通过地面模拟实验，针对JK触发器、运算放大器、静态随机存储器（SRAM）初步研究的SEE和SESD诱发软错误的异同表象和作用机制，为进一步发展准确甄别与应对有关在轨故障的技术方法提供参考。

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