分析方法 | 应用范围 |
FTIR | 该仪器可检测各种气体、液体、固体及粉末样品的红外光谱。广泛应用于无机物、有机物、高分子聚合物、药品、生物材料、矿物等材料的分子结构分析 |
EDS | Be - Es范围元素定性定量分析 |
XRF | Be-U范围元素定性定量分析 |
GC-MS | 广泛应用于复杂组分的分离与鉴定,适宜分析有机小分子、易挥发、热稳定、不易分解、不易反应、300℃左右能汽化的化合物,特别适合用于同系物、同分异构体的分离 |
ICP | 测定各种物质(可溶解于盐酸、硝酸、氢氟酸等)中常量、微量、痕量金属元素或非金属元素的含量 |
XRD | 物相分析;晶粒尺寸;小角散射;晶格常数测定;结晶度测定;残余应力测定;薄膜厚度测量;摇摆曲线测量 |
TGA | 常用于测定物质在熔融,相变,分解,化合,凝固,脱水,蒸发,升华等特定温度下发生的热量和质量变化,广泛应用于无机,有机,材料等领域 |
原理
光源发出的光被分束器(类似半透半反镜)分为两束,一束经透射到达动镜,另一束经反射到达定镜。两束光分别经定镜和动镜反射再回到分束器,动镜以一恒定速度作直线运动,因而经分束器分束后的两束光形成光程差,产生干涉。干涉光在分束器会合后通过样品池,通过样品后含有样品信息的干涉光到达检测器,然后通过傅里叶变换对信号进行处理,最终得到透过率或吸光度随波数或波长的红外吸收光谱图。
技术指标
光谱范围:中红外光区:7800~350cm-1;中/近红外光区:11000~375cm-1 ;快速扫描:40张光谱/秒;光谱分辨率:优于0.4cm-1 ;波数精度:优于0.01cm-1;配有衰减全反射(ATR)附件和漫反射附件
样品要求
1. 粉末样品:不含水,磨细,约10 mg
2. 液态样品:非水溶液,约0.5 ml
3 薄膜样品:尽可能薄,大于0.5 cm*0.5 cm
4 气态样品:用气体样品袋盛装
原理
各元素都有自己的X射线特征波长,特征波长的大小则取决于能级跃迁过程中释放出的特征能量△E,能谱仪就是利用不同元素X射线光子特征能量不同这一特点来进行成分分析的。
技术指标
检测元素范围:Be - Es;分析深度约1微米;检测下限约1%;空间分辨率约1微米
样品要求
1.提前告知样品是磁性or非磁性,导电or不导电
2.样品直径125 mm以内,高度50mm以内
原理
原级X射线照射到样品上,激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出X射线荧光,且不同元素的X射线荧光具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的X射线荧光的能量及数量。然后,仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。
技术指标
元素范围:O-U;含量:ppm-100%;可进行250um 微区分布分析
样品要求
固体样品任一方向尺寸小于40mm,表面平整;粉末>10g;熔片;液体
原理
GC(Gas chromatography,气相色谱法)是利用色谱柱先将混合物分离,然后利用检测器依次检测已分离出来的组分。MS(Mass spectrometry,质谱法)使所研究的混合物或单体形成离子,然后按质荷比进行分离。通过使用标准品,也是可以定量的。
技术指标
离子源:EI、CI电离源;测试质量范围:1.6-1050amu;质量轴稳定性:优于0.10amu/48小时;质量分析器:整体石英镀金双曲面四极杆,独立温控,106℃-200℃;扫描方式:全扫描(Full Scan),选择离子扫描(SIM);最大扫描速率:≥12.000amu/秒;离子化能量:5-241.5eV ;EI灵敏度:1pg八氟萘(OFN),信/噪比≥600:1
样品要求
样品溶解在有机溶剂里,脱水
原理
将样品溶液喷入感应耦合电浆的核心中,电浆温度高达8000°C,在这样的高温下,所有的分析物种都会被原子化、离子化和热激发,然后它们可以被OES或MS侦测和定量。
ICP-OES vs ICP-MS: 两种技术的比较
ICP-OES可以测量从热激发分析离子的特定元素特性波长发射的光。这种发射光可以在分光计中分离和测量强度,通过和校正标准品进行比对,转换为元素浓度。
ICP-MS可以测量由高温氩离子电浆产生的元素离子质量。在电浆中产生的离子依据其荷质比分离,使未知材料可以被识别和定量。ICP-MS可以对各种不同的元素提供极高的灵敏度(即低侦测极限)。
技术指标
测量质量范围:3~280 amu;检测器线性动态范围:9个数量级;检测限:9Be:≤ 3.0 ppt;115In:≤0.1 ppt;238U:≤ 0.3 ppt
样品要求
可溶解于盐酸、硝酸、氢氟酸等
原理
X-射线衍射峰是由从每组样品的晶格面在特定角度衍射的单色光干涉产生的,峰值的强度由晶格内原子的分布来决定。因此,XRD图样就成为材料中周期性原子排列的指纹。
技术指标
测角仪精度:0.0001度;测角仪重现性:0.0001度
样品要求
金属样品如块状、板状、圆拄状要求磨成一个平面,面积不小于10X10毫米;对于片状、圆拄状样品会存在严重的择优取向,衍射强度异常。因此要求测试时合理选择响应的方向平面;对于测量金属样品的微观应力(晶格畸变),测量残余奥氏体,要求样品不能简单粗磨,要制备成金相样品,并进行普通抛光或电解抛光,消除表面应变层或是损伤层;粉末样品要求磨成320目的粒度,约40微米。粒度粗大衍射强度低,峰形不好,分辨率低,要了解样品的物理化学性质,如是否易燃,易潮解,易腐蚀、有毒、易挥发;粉末样品要求在3克左右,如果太少也需5毫克;样品可以是金属、非金属、有机、无机材料粉末
原理
将样品置于一密封容器中,特定气氛下改变其温度环境或维持在一固定温度之下,观察样品的重量变化情形,进而推断样品的特性与组成。
技术指标
温度范围:RT-1000℃;升降温速率:0.001 K/min - 200 K/min;冷却时间:20 分钟(1000℃-100℃);宽广的称重范围:最大 2000mg;称重解析度:0.1 µg;测量气氛:惰性,氧化,静态,动态
样品要求
固体、粉末、液体、薄膜均可,所需样品量约为20mg
米格实验室是基于互联网+,面向实体企业,面向材料和半导体领域的研发检测与技术解决方案服务平台。
长按识别二维码,了解关注米格实验室
联系方式:18301325784