UVI264-用于解决PMIC测试方案的高密度和高精度VI

在过去几年中，芯片的测试需求变得更加严格，需要比以往任何时候都更高的密度和更高的精度水平，同时芯片的复杂度也在增加。UVI264力求满足所有这些需求，同时引入新功能以帮助轻松测试复杂的PMIC。UVI264将我们的许多上一代VI仪器(UVI80、DC30、DC75、DC80)整合到一个仪器中，Teradyne的UltraFLEXplus VI解决方案包括：248个低压连接(LVVI)、16个高压连接(HVVI)、8个时间测量单元(TMU)、8个差分电压表 (DiffMeter)，同时引入了4个精密参考(Pref)用来协助高精度测试案例。

本文将深入介绍所有这些子仪器，并介绍如何实现~100uV(@1.2V bandgap)trim精度、用来减少DIB上所需的继电器该的内部多路复用结构，以及集成的Spike检查工具。